使用origin9怎么 看XRD角度

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

利用XRD图谱计算晶格常数,首先要确定样品的晶胞类型,然后利用图谱几个相对强度较大的峰,在标准图中找到相应的k,h,l和相应晶胞角度,带入相应的计算公式,就可以解出相应的晶格常数了:用JADE软件可以

单晶还是多晶做个TEM中的SAED电子衍射不就行了,是点阵就是单晶,是环状就是多晶,XRD上是不容易确定的.查看原帖

这是一名专门的学科,不是几句话可以讲清楚的,还是买本书自己看看比较靠谱.再问：谢谢。

寻峰后的结果里应该有个半高宽的参数,就是计算晶粒大小的,关键是你得有一个已知晶粒大小的标样!

?:tiger05:zbdfwq5777(站内联系TA)利用软件拟合XRD就可以.利用软件拟合XRD就可以.X'pertPlus,GSAS,TOPAS,Fullpro等程序都可以,但初学者估计有一点难

显微镜下降物镜时,眼睛要从（一侧）看着物镜,向前转动（粗准焦螺旋）,使镜筒慢慢下降,注意不要让物镜碰到（载玻片）.慢慢的移动载玻片时,可以发现目镜中的物象一栋方向跟载片的移动方向（相反）.这说明显微镜

入射角度,射线强度等

每个码对应有（位数）,00248（10000）（1000）（100）（10）（0)仔细看看电表再问：是这样的0020481000010001001010.1请问这样算是什么？我从3月份搬进来是0015

首先简单说下原理——角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入

百分表一般是用来测孔内径或轴的圆柱度、板的平面度等的一种测量工具.在测试前需用卡尺或千分尺对至基本尺寸,然后卡住百分表下端的测量卡抓,旋转百分表的表头,将百分表的指针调零,然后下入内孔测量内孔误差,或

托盘天平的使用\x0d螺丝游码刻度尺,指针标尺有托盘.\x0d调节螺丝达平衡,物码分居左右边.\x0d取码需用镊子夹,先大后小记心间.\x0d药品不能直接放,称量完毕要复原.\x0d解释：1、螺丝游码

是不是噪声背底太高了?对数据处理一下就可以了.

找到对应的物相的pdf卡片后,卡片上d值对应的晶面指数.

XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移

看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度（Int

在写文章的时候,很多人需要用origin做出XRD处理图,以支持自己的观点.但是很多XRD谱图的文件类型是raw或者其他形式的,不能直接用origin打开.下面我们为大家讲解如何使用origin打开X

XRD衍射图一般是进行定性分析的.求各相比例是定量分析的内容.用XRD衍射图很难进行定量分析,分析出来的数据也不准确.至于求法,主要是看峰高（峰高反应强度）,不同相的峰高比就差不多是其含量的比例.

台秤是承重装置为矩形台面,通常在地面上使用的小型衡器.按结构原理可分为机械台秤和电子台秤两类.电子台称称量时,被测物重量通过称重传感器转换为电信号,在由运算放大器放大并经单片微处理机处理后,以数码形式

用origin把图叠在一起就醒了,这样看起来理解容易,准备paper也方便.另：楼主写的问题不够清楚XRD主要进行相结构分析的.首先,你要知道做X衍射你再问：我现在得到的都是**.txt或**.raw