用多晶XRD测试硅片上生长的纳米薄膜结构,为什么有的峰值测不到

来源：学生作业帮编辑：搜狗做题网作业帮分类：数学作业时间：2024/06/01 10:25:10

用多晶XRD测试硅片上生长的纳米薄膜结构,为什么有的峰值测不到
如果只测硅片的话,买的硅片是（100）的,结果只能测到（400）的峰,而且（100）和（400）两个面是不是平行的
测薄膜的时候,比如硫化镉,立方结构的（111）和六角结构的（002）很接近,怎么判断是哪一个.

两个晶面当然是平行的,取向完全一致,所以硅片没问题.
后者要通过观察其它弱衍射峰来确定到底是六方还是立方.一般来说硫化镉六方多一点.
再问：我觉得（100）和（400）是一回事啊，为什么要分开来说什么只能测到（400），是不是因为X射线的波长小于（100）的层间距我做的两个样品一个是薄膜，两个衍射峰，低一点的是六角的，是不是说明高一点的主峰也是六角的另一个是有纳米线的薄膜，主峰和薄膜的主峰位置很靠近，但是角度要差一点，峰值很高，PDF的卡片上，立方结构的主峰（111）也很高。而且纳米线形状是3棱锥形的，是不是意味着它就是立方结构呢
再答：第一个问题，低一点是六方，说明高角度也属六方晶系的可能性更大；第二个问题，跟你的制备条件有关，硫化镉很少见立方结构，至于说高的峰值，一般来说是001或者100，考虑到硅片的100取向。顺便说一句，峰值高低跟取向有关，且相对强度随取向而变。

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